SJ 20524-1995 材料屏蔽效能的测量方法
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ID： |
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0.8 |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,.,FL 5971 SJ 20524-1995,材料屏蔽效能的测量方法,Measuring methods for shielding effectiveness of materials,1995-05-25 发布1995-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国包子行业军用标准,材料屏蔽效能的测试方法,Measuring methods for shielding effectiveness of materials,SJ 20524-1995,1范围,1.1主题内容,本标准规定了非导电材料表面涂或镀层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电介质板等平板,型电磁屏蔽材料对于平面波屏蔽效能的测量方法,1.2适用范围,本标准适用于金属薄板、非导电材料表面涂或镀层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电介,T,质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波的屏蔽效能的测量,2引用文件,GB 6113-85,GJB 72—85,GJB/Z 25—90,电磁干扰测量仪,电磁干扰和电磁兼容性名词术语,电子设备和设施的接地、搭接和屏蔽设计指南,3定义,’赊本标准规定的术语外,其他术语符合GJB 72,3. 1 屏蔽效能（SE）shielding effectiveness,在同一激励电平下,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率或电压之比,并以对数表,示。即:,SE = 201g（,Vi,SE — 101g（キ）,/] .（2）,式中:SE -屏盡效龍,;,vo --无屏蔽材料尉的接收电压;,匕ーー有屏蔽材料时的接收电压;,P。ーー无屏蔽材料时的接收功率;,有屏蔽材料时的接收功率,4 一般要求,中华人民共和国电子工业部!995 05 25发布1995-12-0I 实施,丒■ ■■,SJ 20524-1995,4.1测量条件,a丒环境温度:23±2C,b. 环境相对湿度:45%.75%,大气压カ:86~ 106kPa;,d. 试样测试前应在上述环境中保持4 h;,环境电磁噪声对测量结果不应产生影响,4.2测试设备,4.2.1信号源,频率范围:1 MHz ~ 1.5GHz ；,最大输出功率:2+ 13dBm;,输出阻抗:50。;,SS 压驻波比:<2,0,4.2.2 电磁干扰测量仪,工作频率范围与信号源相一致;测量误差应满足GB 6113的要求,4.2.3 法兰同轴测试装置,如图1所示;,频率范围:5kHz~ 1.5GHz;,特性阻抗:50。;,电压驻波比:<1.2;,传输损耗:VldB；,测量动态范围:〉100dB,1 .同轴连接器,2 .锥形同轴线支架,3 .连接器紧固螺母,4 .锥形同轴线腔体,5 .导轨,6.底座,图1 法兰同轴测试装置,4.2.4 跟踪信号源/频谱分析仪,频率范围:lMHz- 1.5GHz,跟踪信号源最大输出功率:？+ 13dBm;,勺,SJ 20524 —1995,跟踪信号源电压驻波比:<2.0;,频谱分析仪最小分辨率带宽』kHz;,频谱仪灵敏度:满足GB 6113的要求;,特性阻抗:50Q,4.2.5 网络分析仪,频率范围:lMHz~ 1.5GHz；,时基稳定度:±3ppm/a;,频率分辨率:1Hz;,特性阻抗:50Q;,电压驻波比:<2.0,4.2.6 衰减器,频率范围:30MHz~ 1.5GHz;,特性阻抗:500;,10dB固定衰减器（额定功率满足测试要求）;,驻波比:<1.2,4.2.7 电缆及连接器,特性阻抗:50。;,连接器:N型,5详细要求,本标准规定的方法中,所用测量设备的核心部分是4.2.3条叙述的法兰同轴测试装置,该同轴装置内的电场与磁场相互正交,且垂直于电磁波的传播方向,相当于空间的平面电磁,波,因此测量结果是试样对垂直入射平面波的屏蔽效能,（见图2）;对材料近区磁场的测量方,法,参见附录A（参考件）,图2法兰同轴测试装置内部场分布,5.1测量要求,. a.负载试样最大厚度t < 5mm ,试样外径115」.5mm,开孔试样孔径12 + g'5,的材料,应按以下规格制作成试样（见图3）;,mm,被测,3,SJ 20524 —1995,al -负载试样a2负载试样a3参考试样,al:可用于5kHz~1.5GHz屏蔽效能测试的负载试样,但对于5kHz.30MHz与ASTM双屏蔽盒法的可,比性有待进ー步研究;,a2:用于30MHz~L5GHz屏蔽效能测试的负载试样;,a3:用于30MHz~ 1.5GHz校准的参考试样;,图3试样形状尺寸示意图,b. 试样在受试之前应在温度23 ± 2C ,相对湿度(50 ±5)%的条件下存放48h,试验时取,出并立即进行试验;,c,双面均有导电材料的负载试样,应对试样的外缘及贯通孔内壁作导电处理,使两面连,通。制成的负载试样和参考试样应是同种材料,并且厚度相同。它们的不平度不应大于其本,身厚度的2%；,d.在法兰同轴测试装置中夹放试样时,应将导电面朝向信号源端,并夹紧试样,使试样,与法兰同轴测试装置紧密的接触,避免因接触不良而引起的测量误差。对屏蔽效能高的试样,及玻璃等脆性导电试样,在同轴法兰的法兰面上必须加导电衬垫;‘,e. 若测量若干片厚度相同的同一类负载试样时,应使负载试样与法兰同轴测试装置紧,密的接触,记下紧固螺母侧面刻度指示的方位值,以后各片负载试样均以此读数为准,这样就,保证了每片负载试样的压紧カ相同,提高测量的可重复性,避免因压カ不同而引起的测量误,差;,f.本标准所采用的测量设备,必须有足够的动态范围,即测量设备的动态范围应大于法,兰同轴测试装置的动态范围;,g-……
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